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Characterization of interfacial layer of DUV coatings by spectroscopic ellipsometry
会议论文
2012 International Conference on Nanotechnology and Precision Engineering, ICNPE 2012, December 26, 2012 - December 27, 2012, Guilin, China, December 26, 2012 - December 27, 2012
Deng W.
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2014/05/15
Optical characterization of LaF3 by variable angle purged UV spectroscopic ellipsometry
会议论文
2012 International Conference on Nanotechnology and Precision Engineering, ICNPE 2012, December 26, 2012 - December 27, 2012, Guilin, China, December 26, 2012 - December 27, 2012
Deng W.
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2014/05/15
UV Raman Spectroscopic Characterization of Catalytic Materials for Energy and Environment
会议论文
22nd canadian symposium on catalysis, quebec, 2012-5-13
李灿
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2013/10/10
Characterization of arsenic ultra-shallow junctions in silicon using photocarrier radiometry and spectroscopic ellipsometry
会议论文
International Journal of Thermophysics, 2012
作者:
Huang, Qiuping
;
Li, Bincheng
;
Gao, Weidong
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2016/11/25
Structural and spectroscopic characterization of Yb3+ doped Lu2O3 transparent ceramics
会议论文
OPTICAL MATERIALS, 2012-04-01
作者:
Zhang, Haojia[1]
;
Yang, Qiuhong[2]
;
Lu, Shenzhou[3]
;
Shi, Zhifa[4]
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/04/30
Yb:Lu2O3 transparent ceramics
Broad emission band
Gain cross-section
UV and Deep UV Raman Spectroscopic Characterization of Catalytic Material
会议论文
the third asian spectroscopy conference, 厦门, 2011-11-28
李灿
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2013/10/10
Characterization of hafnia thin films made with different deposition technologies
会议论文
Proc. of SPIE, 2011
作者:
Wanjun Ai
;
Shengming Xiong
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2016/11/25
Spectroscopic Ellipsometry Characterization of Optical Properties for Ti-Doped SiO2 Mesoporous Films
会议论文
9th Chinese International Nanoscience and Technology Symposium
作者:
Yue, Chunxiao[1]
;
Sun, Zuyao[2]
;
Yao, Lanfang[3]
;
Jiang, Kaiming[4]
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/04/30
Rotating compensator sampling for spectroscopic imaging ellipsometry
会议论文
5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, Albany, NY, MAY 23-29, 2010
作者:
Meng YH(孟永宏)
;
Jin G(靳刚)
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2012/04/01
Rotating compensator
Spectroscopic imaging ellipsometry
Spectroscopic ellipsometry
Imaging ellipsometry
Ellipsometry
Nanofilm pattern
Carbon chain growth via formyl insertion on Rh and Co catalysts in syngas conversion
会议论文
242nd acs national meeting & exposition., 丹佛, 2011-8-28
赵永慧
;
李微雪
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2012/07/09
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