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科研机构
半导体研究所 [5]
山东大学 [4]
内容类型
期刊论文 [9]
发表日期
2016 [1]
2014 [1]
2013 [3]
2012 [4]
学科主题
半导体材料 [5]
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Effect of polarization Coulomb field scattering on low temperature electron mobility in strained AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
MODERN PHYSICS LETTERS B, 2016, 卷号: 30, 期号: 35
作者:
Liu, Yan
;
Lin, Zhao-Jun
;
Yang, Ming
;
Luan, Chong-Biao
;
Wang, Yu-Tang
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/16
AlGaN/AlN/GaN heterostructure
field-effect transistor
polarization
Coulomb field scattering
two-dimensional electron gas
electron
mobility
Influence of the channel electric field distribution on the polarization Coulomb field scattering in In0.18Al0.82N/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
Chinese Physics B, 2014, 卷号: 23, 期号: 4
作者:
Yu, Ying-Xia
;
Lin, Zhao-Jun
;
Luan, Chong-Biao
;
, Yuan-Jie
;
Feng, Zhi-Hong
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/17
Influence of Schottky drain contacts on the strained AlGaN barrier layer of AlGaN_AlN_GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
chinese physics b, 2013, 卷号: 22, 期号: 4, 页码: 047102
Cao Zhi-Fang , Lin Zhao-Jun, Lü Yuan-Jie, Luan Chong-Biao and Wang Zhan-Guo
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提交时间:2014/03/18
Influence of Schottky drain contacts on the strained AlGaN barrier layer of AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
chinese physics b, 2013, 卷号: 22, 期号: 4, 页码: 047102
Cao Zhi-Fang
;
Lin Zhao-Jun
;
Lu Yuan-Jie
;
Luan Chong-Biao
;
Wang Zhan-Guo
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2013/09/17
Electron mobility in the linear region of AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistor
期刊论文
chin. phys. b, 2013, 卷号: 22, 期号: 6, 页码: 067203
Yu Ying-Xia, Lin Zhao-Jun, Luan Chong-Biao, Wang Yu-Tang, Chen Hong, Wang Zhan-Guo
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提交时间:2014/03/18
A simple method of extracting the polarization charge density in the AlGaN/GaN heterostructure from current-voltage and capacitance-voltage characteristics
期刊论文
chinese physics b, 2012, 卷号: 21, 期号: 9, 页码: 097104
Lu YJ (Lu Yuan-Jie)
;
Lin ZJ (Lin Zhao-Jun)
;
Yu YX (Yu Ying-Xia)
;
Meng LG (Meng Ling-Guo)
;
Cao ZF (Cao Zhi-Fang)
;
Luan CB (Luan Chong-Biao)
;
Wang ZG (Wang Zhan-Guo)
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提交时间:2013/04/02
A simple method of extracting the polarization charge density in the AlGaN/GaN heterostructure from current-voltage and capacitance-voltage characteristics
期刊论文
chinese physics b, 2012, 卷号: 21, 期号: 9, 页码: 16741056
Lü, Yuan-Jie
;
Lin, Zhao-Jun
;
Yu, Ying-Xia
;
Meng, Ling-Guo
;
Cao, Zhi-Fang
;
Luan, Chong-Biao
;
Wang, Zhan-Guo
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提交时间:2013/05/07
Determination of the series resistance under the Schottky contacts of AlGaN/AlN/GaN Schottky barrier diodes
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2012, 卷号: 21, 期号: 1
作者:
Cao Zhi-Fang
;
Lin Zhao-Jun
;
Lu Yuan-Jie
;
Luan Chong-Biao
;
Yu Ying-Xia
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提交时间:2019/12/23
AlGaN/AlN/GaN heterostructures
Schottky barrier diodes
power
consumption
series resistance
A simple method of extracting the polarization charge density in the AlGaN/GaN heterostructure from current-voltage and capacitance-voltage characteristics
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2012, 卷号: 21, 期号: 9
作者:
Lu Yuan-Jie
;
Lin Zhao-Jun
;
Yu Ying-Xia
;
Meng Ling-Guo
;
Cao Zhi-Fang
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提交时间:2019/12/23
AlGaN/GaN heterostructures
flat-band voltage
polarization charge
density
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