CORC

在结果中检索

CORC

浏览/检索结果: 共12条，第1-10条 帮助

限定条件                
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Preferential orientation growth of ain thin films on si (111) substrates by lp-mocvd 期刊论文
Modern physics letters b, 2007, 卷号: 21, 期号: 22, 页码: 1437-1445
作者:  Zhao, Yongmei;  Sun, Guosheng;  Liu, Xingfang;  Li, Jiaye;  Zhao, Wanshun
收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2019/05/12
Preferential orientation growth of AIN thin films on Si (111) substrates by LP-MOCVD 期刊论文
modern physics letters b, 2007, 卷号: 21, 期号: 22, 页码: 1437-1445
Zhao, YM; Sun, GS; Liu, XF; Li, JY; Zhao, WS; Wang, L; Luo, MC; Li, JM
收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2010/03/08
Structural and optical properties of zno films on si substrates using a gamma-al2o3 buffer layer 期刊论文
Journal of physics d-applied physics, 2006, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 269-273
作者:  Shen, WJ;  Wang, J;  Wang, QY;  Duan, Y;  Zeng, YP
收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2019/05/12
Structural and optical properties of ZnO films on Si substrates using a gamma-Al2O3 buffer layer 期刊论文
journal of physics d-applied physics, 2006, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 269-273
Shen WJ; Wang J; Wang QY; Duan Y; Zeng YP
收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2010/04/11
Effects of Thickness on Properties of ZnO Films Grown on Si by MOCVD 期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 11, 页码: 2069-2073
作者:  Wang Jun;  Wang Jun
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2010/11/23
Structural and optical characterization of zn1-xcdxo thin films deposited by dc reactive magnetron sputtering 期刊论文
Chinese physics letters, 2003, 卷号: 20, 期号: 6, 页码: 942-943
作者:  Ma, DW;  Ye, ZZ;  Huang, JY;  Zhao, BH;  Wan, SK
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/05/12
Structural and optical characterization of Zn1-xCdxO thin films deposited by dc reactive magnetron sputtering 期刊论文
chinese physics letters, 2003, 卷号: 20, 期号: 6, 页码: 942-943
Ma DW; Ye ZZ; Huang JY; Zhao BH; Wan SK; Sun XH; Wang ZG
收藏  |  浏览/下载：387/2  |  提交时间：2010/08/12
Structural evaluation of polycrystalline silicon thin films by hot-wire-assisted pecvd 期刊论文
Thin solid films, 2001, 卷号: 395, 期号: 1-2, 页码: 213-216
作者:  Feng, Y;  Zhu, M;  Liu, F;  Liu, J;  Han, H
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/05/12
Structural evaluation of polycrystalline silicon thin films by hot-wire-assisted PECVD 期刊论文
thin solid films, 2001, 卷号: 395, 期号: 1-2, 页码: 213-216
Feng Y; Zhu M; Liu F; Liu J; Han H; Han Y
收藏  |  浏览/下载：161/11  |  提交时间：2010/08/12
Structural evaluation of polycrystalline silicon thin films by hot-wire-assisted PECVD 会议论文
1st international conference on cat-cvd (hot wire cvd) process, kanazawa, japan, nov 14-17, 2000
Feng Y; Zhu M; Liu F; Liu J; Han H; Han Y
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2010/11/15

©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace