|
已选(0)清除
条数/页： 排序方式：
|
| 22nm体硅FinFET总剂量效应及热载流子可靠性研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2020
作者: 王保顺
  收藏 | 浏览/下载：32/0 | 提交时间：2020/11/19
|
| 22 nm体硅FinFET热载流子及总剂量效应研究 期刊论文
固体电子学研究与进展, 2020, 卷号: 40, 期号: 5, 页码: 384-388
作者: 王保顺; 崔江维; 郑齐文; 席善学; 魏莹
收藏 | 浏览/下载：62/0 | 提交时间：2020/11/17
|
| 总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究 学位论文
北京: 中国科学院大学, 2019
作者: 赵京昊
收藏 | 浏览/下载：239/0 | 提交时间：2019/07/15
|
| 总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2019
作者: 赵京昊
收藏 | 浏览/下载：17/0 | 提交时间：2019/07/15
|
| 总剂量辐射对65 nm NMOSFET热载流子敏感参数的影响 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 126-130
作者: 苏丹丹; 周航; 郑齐文; 崔江维; 孙静
收藏 | 浏览/下载：16/0 | 提交时间：2018/03/19
|
| 隧穿场效应晶体管结构优化及非易失性SRAM性能研究 学位论文
2018
作者: 张文豪
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2019/11/26
|
| 辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
北京: 中国科学院大学, 2017
作者: 周航
收藏 | 浏览/下载：35/0 | 提交时间：2017/09/26
|
| 辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2017
作者: 周航
收藏 | 浏览/下载：13/0 | 提交时间：2017/09/26
|
| 硅基半导体多场耦合下的光传输及电调控特性分析 期刊论文
发光学报, 2016, 期号: 1, 页码: 63-73
作者: 周吉; 贺志宏; 于孝军; 杨东来; 董士奎
收藏 | 浏览/下载：20/0 | 提交时间：2017/09/17
|
| 热载流子应力和总剂量效应对双极型器件电磁敏感性的影响研究 学位论文
2016
作者: 熊涔
收藏 | 浏览/下载：3/0 | 提交时间：2019/12/02
|
