×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
西安交通大学 [8]
北京大学 [7]
清华大学 [6]
计算技术研究所 [4]
北京航空航天大学 [1]
深圳先进技术研究院 [1]
更多...
内容类型
期刊论文 [25]
会议论文 [3]
其他 [1]
学位论文 [1]
发表日期
2016 [1]
2014 [3]
2013 [1]
2012 [2]
2011 [2]
2010 [7]
更多...
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共30条,第1-10条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究
期刊论文
2016, 2016
张双悦
;
李硕
;
王红
;
杨士元
;
ZHANG Shuang-yue
;
LI Shuo
;
WANG Hong
;
YANG Shi-yuan
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
一种基于环路结构的RFIC内建自测试方法
期刊论文
北京大学学报 自然科学版, 2014
崔伟
;
冯建华
;
叶红飞
;
闫鹏
收藏
  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2015/11/12
内建自测试 Loopback 可测性设计 衰减器 射频集成电路 误差向量幅值(EVM) built-in self-test Loopback design for test attenuator RF IC error vector magnitude
一种3D IC TSV互连的内建自测试和自修复方法
期刊论文
北京大学学报 自然科学版, 2014
王秋实
;
谭晓慧
;
龚浩然
;
冯建华
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2015/11/12
三维集成电路 硅通孔 内建自测试 内建自修复 冗余 3D IC TSV BIST BISR redundancy
An effective logic BIST scheme based on LFSR-reseeding and TVAC
期刊论文
International Journal of Electronics, 2014, 卷号: Vol.101 No.9, 页码: 1217-1229
作者:
Liu, TQ
;
Kuang, JS
;
Cai, S
;
You, ZQ
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/12/31
IC testing
built\-in self\-test \(BIST\)
reseeding
self\-feedback testing
Test Patterns of Multiple SIC Vectors: Theory and Application in BIST Schemes
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2013, 卷号: 21, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 614-623
作者:
Liang, Feng
;
Zhang, Luwen
;
Lei, Shaochong
;
Zhang, Guohe
;
Gao, Kaile
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2019/12/10
single-input change (SIC)
test pattern generator (TPG)
low power
Built-in self-test (BIST)
A BIST scheme to test static parameters of ADCs
会议论文
Electrical & Electronics Engineering (EEESYM), 2012 IEEE Symposium on, 中国
作者:
Zhu Hongyu
;
LI Huiyun.
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2015/08/25
A Low Power Testing Architecture for Test-per-Clock BIST
会议论文
作者:
Sun Haijun
;
Wang Xuanming
;
Lei Shaochong
;
Shao Zhibiao
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2019/12/10
ingle Input Change (SIC) sequence
power
weight
Gray code
seed
Built-in Self-Test (BIST)
An Optimized Seed-based Pseudo-random Test Pattern Generator: Theory and Implementation
期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2011, 卷号: 27, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 477-484
作者:
Sun, Haijun
;
Zeng, Yongjia
;
Li, Pu
;
Lei, Shaochong
;
Shao, Zhibiao
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/12/10
Test pattern generator (TPG)
Low power
Single input change (SIC) sequence
Seed
Fault coverage
Built-in self-test (BIST)
Built-in Self-Test Design for Fault Detection of MUXFXs in SRAM-based FPGAs
会议论文
International Conference on Quantum, Nano and Micro Technologies, Chengdu, PEOPLES R CHINA, 2011-01-01
作者:
Hong, Sheng
;
Tao, Wenhui
;
Qi, Yunping
;
Gao, Cheng
;
Xiaozhang, Liu
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2020/01/06
FPGA
BIST
MUXFX
BIST scheme based on two-dimensional test data compression
期刊论文
2010, 2010
Zhou Bin
;
Ye Yizheng
;
Li Zhaolin
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace