QQ客服 官方微博 反馈留言

	A Low Power Testing Architecture for Test-per-Clock BIST
	Sun Haijun; Wang Xuanming; Lei Shaochong; Shao Zhibiao
	2012
关键词	ingle Input Change (SIC) sequence power weight Gray code seed Built-in Self-Test (BIST)
期号	[db:dc_citation_issue]
DOI	[db:dc_identifier_doi]
页码	377-381
会议录	PROCEEDINGS OF 2012 INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGE ANALYSIS AND SIGNAL PROCESSING
URL标识	查看原文
ISSN号	2156-0110
WOS记录号	[DB:DC_IDENTIFIER_WOSID]
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4451678
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Sun Haijun,Wang Xuanming,Lei Shaochong,et al. A Low Power Testing Architecture for Test-per-Clock BIST[C]. 见:.

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。