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10MeV质子辐射效应对基于8T-CMOS星敏感器性能影响研究（英文） 期刊论文
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2135-2142
作者:  冯婕1,2;  李豫东1,2;  傅婧1,2,3;  文林1,2;  郭旗1,2
收藏  |  浏览/下载：123/0  |  提交时间：2022/03/07
辐射导致CMOS图像传感器暗电流随机电报信号（英文） 期刊论文
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2143-2150
作者:  刘炳凯1,2,3,4;  李豫东1,2,3;  文林1,2,3;  周东1,2,3;  郭旗1,2,3
收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2022/03/07
高能质子辐照导致电荷耦合器件性能退化研究 期刊论文
现代应用物理, 2021, 卷号: 12, 期号: 3, 页码: 147-152
作者:  李钰1;  文林2;  周东2;  李豫东2;  郭旗2
收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2021/11/29
8T CMOS图像传感器质子辐照效应研究（英文） 期刊论文
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2128-2134
作者:  傅婧1,2,3;  李豫东1,2;  冯婕1,2;  文林1,2;  郭旗1,2
收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2022/01/25
背照式CMOS图像传感器的累积辐射效应研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2020
作者:  张翔
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2020/11/19
一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后暗电流评估方法 专利
申请日期: 2020-08-14,
作者:  冯婕;  李豫东;  文林;  周东;  郭旗
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2020/11/25
一种基于红外探测器质子位移效应的低温辐照试验测试方法 专利
申请日期: 2020-06-19,
作者:  周东;  李豫东;  文林;  冯捷;  郭旗
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2020/11/25
一种基于紫外探测器质子位移效应的辐照试验测试方法 专利
申请日期: 2020-03-24,
作者:  周东;  冯婕;  李豫东;  文林;  郭旗
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2020/11/25
电离总剂量效应对4T CMOS图像传感器暗电流影响的数值仿真 期刊论文
数值计算与计算机应用, 2020, 卷号: 41, 期号: 2, 页码: 143-150
作者:  魏莹;  文林;  李豫东;  郭旗
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2020/09/07
辐射对HgCdTe红外器件暗电流特性的影响研究 学位论文
北京: 中国科学院大学, 2019
作者:  王志铭
收藏  |  浏览/下载：247/0  |  提交时间：2019/07/15

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