本发明涉及一种基于紫外探测器质子位移效应的辐照试验测试方法，该方法涉及测试装置是由计算机、直流电源、数据采集及时序控制电路、camlink数据线、导线和器件座组成，首先将测试装置放置在测试室内，安装好紫外探测器后，检查各项功能正常后，取下紫外探测器，将其放在辐照室内开始辐照试验，直至达到预定的最大辐照注量，停止辐照，结束辐照试验，利用已有参数计算方法，结合采集的图像计算出暗电流、输出信号、暗电流噪声、响应率、探测率和缺陷像元。本发明实现了紫外探测器的质子位移效应辐照测试，可靠性高、装置连接简单、操作方便、方法简单易行。本发明所涉及的装置具有体积小、重量轻、便携等特点，可实现异地紫外探测器性能参数测试，满足紫外探测器质子位移效应辐照试验的要求。