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一种用于监控介质平坦化过程的方法 专利
专利号: CN200810104224.1, 申请日期: 2010-09-22, 公开日期: 2009-10-21
作者:  刘新宇;  金智
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一种引出亚微米HBT发射极/HEMT栅的方法 专利
专利号: CN200710178316.X, 申请日期: 2010-01-13, 公开日期: 2009-06-03
作者:  程伟;  于进勇;  刘新宇;  金智;  夏洋
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采用局部二次掺杂工艺调整变容二极管特性的方法 专利
专利号: CN101621027, 申请日期: 2010-01-06, 公开日期: 2010-01-06
作者:  金智;  王显泰
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