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发表日期:2005
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多壁碳纳米管γ辐照后的化学修饰
期刊论文
辐射研究与辐射工艺学报, 2005, 期号: 03
郭金学,李宇国,吴胜伟,李文新
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2012/06/06
多壁碳纳米管
γ辐照
化学修饰
SBS辐射接枝共聚研究(Ⅰ):SBS/MMA液相辐射接枝
期刊论文
辐射研究与辐射工艺学报, 2005, 期号: 03
李林繁,谢雷东,虞鸣,付海英,盛康龙
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2012/06/06
苯乙烯-丁二烯-苯乙烯嵌段共聚物
辐照
接枝共聚
甲基丙烯酸甲酯
CNTs化学修饰的γ剂量效应
期刊论文
辐射研究与辐射工艺学报, 2005, 期号: 02
郭金学,李宇国,吴胜伟,李文新
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2012/07/04
多壁碳纳米管
γ射线辐照
化学修饰
剂量效应
4–氯酚的γ射线辐照降解研究
期刊论文
辐射研究与辐射工艺学报, 2005, 期号: 01
王敏
;
杨睿媛
;
朱志远
;
王文锋
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2012/07/04
γ射线辐照
4-氯酚
降解
化学需氧量
脱氯
高剂量辐照猪肉的挥发物、脂氧化和感官特征分析
期刊论文
辐射研究与辐射工艺学报, 2005, 期号: 01
侯铮迟,孙大宽,秦宗英,金江,朱莲娣,姚思德,盛康龙
收藏
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2012/07/04
辐射加工
挥发物
脂氧化
辐照味
运算放大器不同剂量率的辐射损伤效应
期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 7, 页码: 1464-1468
作者:
陆妩
;
任迪远
;
郭旗
;
余学峰
;
艾尔肯
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2012/11/29
运算放大器
60Coγ辐照
退火
剂量率效应
预先老化对注FnMOS器件辐射可靠性的影响
期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 1, 页码: 111-114
作者:
崔帅
;
余学峰
;
任迪远
;
张华林
;
艾尔肯
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2012/11/29
预先老化
辐照
注F
可靠性
预先老化对注FnMOS器件辐射可靠性的影响
期刊论文
半导体学报, 2005, 期号: 1, 页码: 111-114
作者:
崔帅
;
余学峰
;
任迪远
;
张华林
;
艾尔肯
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2012/11/29
预先老化
辐照
注F
可靠性
80C31单片机电路总剂量效应研究
期刊论文
微电子学, 2005, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 584-586,590
作者:
匡治兵
;
郭旗
;
任迪远
;
李爱武
;
汪东
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2012/11/29
单片机
60Coγ辐照
辐射损伤
退火
InSb红外焦平面器件γ辐照损伤初步研究
会议论文
第五届全国夜视技术交流会暨2005年全国瞬态光学与光电子技术交流会, 云南西双版纳, 2005
陈伯良
;
朱建妹
;
靳涛
;
刘普霖
;
唐红兰
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2013/04/09
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