×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
西安交通大学 [1]
北京航空航天大学 [1]
华南理工大学 [1]
工程热物理研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [3]
会议论文 [1]
发表日期
2019 [1]
2016 [1]
1992 [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
发表日期升序
发表日期降序
作者升序
作者降序
提交时间升序
提交时间降序
题名升序
题名降序
Combinations of single-top-quark production cross-section measurements and |f LV Vtb| determinations at √s = 7 and 8 TeV with the ATLAS and CMS experiments
期刊论文
Journal of High Energy Physics, 2019, 卷号: 2019
作者:
Aaboud, M.
;
Aad, G.
;
Abbott, B.
;
Abbott, D.C.
;
Abdinov, O.
收藏
  |  
浏览/下载:169/0
  |  
提交时间:2019/12/30
Erratum to: Guidelines for the use and interpretation of assays for monitoring autophagy (3rd edition) (Autophagy, 12, 1, 1-222, 10.1080/15548627.2015.1100356
期刊论文
Autophagy, 2016, 卷号: 12
作者:
Klionsky, Daniel J.
;
Abdelmohsen, Kotb
;
Abe, Akihisa
;
Abedin, Md Joynal
;
Abeliovich, Hagai
收藏
  |  
浏览/下载:143/0
  |  
提交时间:2019/11/26
End Effect on the Twin-Wire Depth Probe
期刊论文
JOURNAL OF THERMAL SCIENCE, 1992, 卷号: 1, 期号: 4, 页码: 286,291
C.Y. Liu
;
Y.W. Wong
;
W.K. Chan
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2013/03/13
twin-wire probe
depth probe
Low level birefringence detection system for stress measurement in semiconductors (EI收录)
会议论文
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Munich, Germany, June 23, 2003 - June 26, 2003
作者:
Peng, H.J.[1]
;
Wong, S.P.[1]
;
Liu, X.H.[1]
;
Lai, Y.W.[1]
;
Ho, H.P.[1]
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2019/04/19
Angle measurement
Light modulation
Photoelasticity
Semiconducting silicon
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace