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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Origin and differentiation of human memory CD8 T cells after vaccination 期刊论文 Nature, 2017, 卷号: 552, 期号: 7685, 页码: 362-367 作者:  Akondy, Rama S.;  Fitch, Mark;  Edupuganti, Srilatha;  Yang, Shu;  Kissick, Haydn T. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/03 Aberration-corrected transmission electron microscopy reveals nanoscale disorder in bismuth ferrite single crystals 会议论文 作者:  Urban, K.;  Jia, C. L.;  Jin, L.;  Mi, S. B.;  Alexe, M. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/02 Microstructural evolution of PbZr(x)Ti(1-x)O(3)/PbZr(y)Ti(1-y)O(3) (n) epitaxial multilayers (x/y=0.2/0.4, 0.4/0.6) - dependence on layer thickness 期刊论文 Philosophical Magazine, 2010, 卷号: 90, 期号: 10, 页码: 1359-1372 Y. L. Zhu; S. J. Zheng; X. L. Ma; L. Feigl; M. Alexe; D. Hesse; I. Vrejoiu 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2012/04/13 ferroelectrics  transmission electron microscopy  microstructure  ferroelectric thin-films  misfit relaxation mechanisms  domain  configurations  heterostructures  polarization   Microstructural evolution of [PbZrxTi1-xO3/PbZryTi1-yO3](n) epitaxial multilayers (x/y=0.2/0.4, 0.4/0.6) - dependence on layer thickness 期刊论文 PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 2010, 卷号: 90, 期号: 10, 页码: 1359-1372 作者:  Zhu, Y. L.;  Zheng, S. J.;  Ma, X. L.;  Feigl, L.;  Alexe, M. 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2021/02/02 ferroelectrics  transmission electron microscopy  microstructure   Impact of high interface density on ferroelectric and structural properties of PbZr0.2Ti0.8O3/PbZr0.4Ti0.6O3 epitaxial multilayers 期刊论文 JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 2009, 卷号: 42, 期号: 8, 页码: 6 作者:  Feigl, L.;  Zheng, S. J.;  Birajdar, B. I.;  Rodriguez, B. J.;  Zhu, Y. L. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2021/02/02 Impact of high interface density on ferroelectric and structural properties of PbZr(0.2)Ti(0.8)O(3)/PbZr(0.4)Ti(0.6)O(3) epitaxial multilayers 期刊论文 Journal of Physics D-Applied Physics, 2009, 卷号: 42, 期号: 8 L. Feigl; S. J. Zheng; B. I. Birajdar; B. J. Rodriguez; Y. L. Zhu; M. Alexe; D. Hesse 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/04/13 thin-films  dislocations  layer