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	Aberration-corrected transmission electron microscopy reveals nanoscale disorder in bismuth ferrite single crystals
	Urban, K.; Jia, C. L.; Jin, L.; Mi, S. B.; Alexe, M.; Hesse, D.
	2014
卷号	20
期号	[db:dc_citation_issue]
DOI	[db:dc_identifier_doi]
页码	938-939
会议录	Microscopy and Microanalysis
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ISSN号	1435-8115
WOS记录号	[DB:DC_IDENTIFIER_WOSID]
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3275710
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Urban, K.,Jia, C. L.,Jin, L.,et al. Aberration-corrected transmission electron microscopy reveals nanoscale disorder in bismuth ferrite single crystals[C]. 见:.

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