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1/f Noise responses of Ultra-Thin Body and Buried oxide FD-SOI PMOSFETs under total ionizing dose irradiation 期刊论文
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2022, 卷号: 176, 期号: 11-12, 页码: 1202-1214
作者:  Zhang, RQ (Zhang, Ruiqin) [1] , [2] , [3];  Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1] , [2];  Lu, W (Lu, Wu) [1] , [2];  Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1] , [2];  Li, YD (Li, Yudong) [1] , [2]
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2022/04/07
Impact of High TID Irradiation on Stability of 65 nm SRAM Cells 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2022, 卷号: 69, 期号: 5, 页码: 1044-1050
作者:  Cui, JW (Cui, Jiangwei) [1];  Zheng, QW (Zheng, Qiwen) [1];  Li, YD (Li, Yudong) [1];  Guo, Q (Guo, Qi) [1]
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2022/06/21
一种抗辐射加固SOI材料的总剂量辐射性能评估方法 专利
申请日期: 2021-02-19,
作者:  郑齐文;  崔江维;  余学峰;  李豫东;  郭旗
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2021/12/02
一种总剂量效应与工艺波动耦合的电路仿真方法 专利
申请日期: 2021-01-12,
作者:  郑齐文;  崔江维;  李小龙;  魏莹;  余学峰
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2021/12/02
一种电路级总剂量辐射效应仿真方法 专利
申请日期: 2021-01-12,
作者:  郑齐文;  崔江维;  李小龙;  魏莹;  余学峰
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2021/12/02
Impact of TID on Within-Wafer Variability of Radiation-Hardened SOI Wafers 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 7, 页码: 1423-1429
作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1;  Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1;  Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1;  Li, YD (Li, Yudong) 1;  Lu, W (Lu, Wu) 1
收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2021/08/06
Measurement and Evaluation of the Within-Wafer TID Response Variability on BOX Layer of SOI Technology 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2021, 卷号: 68, 期号: 10, 页码: 2516-2523
作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen) 1Cui, JW (Cui, Jiangwei) 1Yu, XF (Yu, Xuefeng) 1;  Li, YD (Li, Yudong) 1;  Lu, W (Lu, Wu) 1;  He, CF (He, Chengfa) 1;  Guo, Q (Guo, Qi) 1
收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2021/12/06
一种基于阈值电压类型匹配的6-T存储单元抗总剂量加固方法 专利
申请日期: 2020-04-14,
作者:  郑齐文;  崔江维;  余学峰;  陆妩;  孙静
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2020/11/25
一种基于三维叠层封装SRAM器件的在轨单粒子翻转甄别系统 专利
申请日期: 2020-03-24,
作者:  郑齐文;  崔江维;  余学峰;  陆妩;  孙静
收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2020/11/25
22 nm体硅FinFET热载流子及总剂量效应研究 期刊论文
固体电子学研究与进展, 2020, 卷号: 40, 期号: 5, 页码: 384-388
作者:  王保顺;  崔江维;  郑齐文;  席善学;  魏莹
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