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科研机构
北京大学 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
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2016 [2]
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Sub-10 nm low current resistive switching behavior in hafnium oxide stack
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2016
Hou, Y.
;
Celano, U.
;
Goux, L.
;
Liu, L.
;
Fantini, A.
;
Degraeve, R.
;
Youssef, A.
;
Xu, Z.
;
Cheng, Y.
;
Kang, J.
;
Jurczak, M.
;
Vandervorst, W.
收藏
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提交时间:2017/12/03
TIO2 THIN-FILMS
OF-VIEW
DEVICE
MEMORY
RERAM
RRAM
Multimode resistive switching in nanoscale hafnium oxide stack as studied by atomic force microscopy
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2016
Hou, Y.
;
Celano, U.
;
Goux, L.
;
Liu, L.
;
Degraeve, R.
;
Cheng, Y.
;
Kang, J.
;
Jurczak, M.
;
Vandervorst, W.
收藏
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提交时间:2017/12/04
FILAMENT
DEVICES
MEMORY
A Physics-Based Compact Model of Metal-Oxide-Based RRAM DC and AC Operations
期刊论文
ieee电子器件汇刊, 2013
Huang, Peng
;
Liu, Xiao Yan
;
Chen, Bing
;
Li, Hai Tong
;
Wang, Yi Jiao
;
Deng, Ye Xin
;
Wei, Kang Liang
;
Zeng, Lang
;
Gao, Bin
;
Du, Gang
;
Zhang, Xing
;
Kang, Jin Feng
收藏
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  |  
提交时间:2015/11/10
Circuit simulation
compact model
conduction of resistive-switching random access memory (RRAM)
conductive filament&apos
parasitic effect
pulse mode
resistive switching
RESISTIVE-SWITCHING MEMORIES
DEVICE
s evolution
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