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Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies 期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2021, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 13
作者:  He, Ze;  Zhao, Shi-Wei;  Liu, Tian-Qi
收藏  |  浏览/下载：70/0  |  提交时间：2022/01/12
Quantum efficiency test system based on focusing scanning for linear array camera 期刊论文
Guangxue Jingmi Gongcheng/Optics and Precision Engineering, 2021, 卷号: 29, 期号: 5, 页码: 975-981
作者:  Y.-F. Tang;  J.-L. Li;  Y.-Q. Yang;  Z.-M. Li and H. B
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2022/06/13
An Improved Fourier-Mellin Transform-Based Registration Used in TDI-CMOS 期刊论文
IEEE Access, 2021, 卷号: 9, 页码: 64165-64178
作者:  Q. Feng;  S. Tao;  C. Liu and H. Qu
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2022/06/13
A 3.0 THz detector in 65 nm standard CMOS process 期刊论文
JOURNAL OF INFRARED AND MILLIMETER WAVES, 2020, 卷号: 39, 期号: 1, 页码: 56-64
作者:  FANG Tong;   LIU Li-Yuan ;   LIU Zhao-Yang;   FENG Peng;   LI Yuan-Yuan;   LIU Jun-Qi;   LIU Jian;   WU Nan-Jian
收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2021/12/16
Overmos - cmos hi-res maps detectors for hep applications 期刊论文
Nuclear instruments & methods in physics research section a-accelerators spectrometers detectors and associated equipment, 2019, 卷号: 924, 页码: 78-81
作者:  Villani, E. Giulio;  Dopke, J.;  French, M. J.;  Liang, Z.;  McMahon, S.
收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2019/04/22
Cmos  Maps  
Overmos - cmos hi-res maps detectors for hep applications 期刊论文
Nuclear instruments & methods in physics research section a-accelerators spectrometers detectors and associated equipment, 2019, 卷号: 924, 页码: 78-81
作者:  Villani, E. Giulio;  Dopke, J.;  French, M. J.;  Liang, Z.;  McMahon, S.
收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2019/04/22
Cmos  Maps  
A 220-to 299-GHz CMOS Terahertz Detector 期刊论文
JOURNAL OF INFRARED MILLIMETER AND TERAHERTZ WAVES, 2019, 卷号: 40, 期号: 6, 页码: 606-619
作者:  Li WF(李惟帆);  Liu PX(刘鹏翔);  Wang YL(汪业龙);  Qi F(祁峰);  Liu ZY(刘朝阳)
收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2019/06/18
Fabrication and measurement of 3D LPF based on coaxial TSV 期刊论文
2019, 卷号: 55, 页码: 102-+
作者:  Wang, Fengjuan;  Li, He;  Yu, Ningmei
收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/20
A single event upset hardened flip-flop design utilizing layout technique 期刊论文
Microelectronics Reliability, 2019, 卷号: 102
作者:  Wang, Haibin;  Chu, Jiamin;  Wei, Jinghe;  Shi, Junwei;  Sun, Hongwen
收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2019/12/17
Linear avalanche photodetector based on CMOS process 会议论文
作者:  Ju Guohao;  Cheng Zhengxi;  Chen Yongping
收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2019/11/13
无  

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