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| 一种后栅工艺MOS器件的制备方法 专利 专利号: CN201610166118.0, 申请日期: 2018-11-30, 公开日期: 2016-07-27 作者: 高建峰 ; 白国斌 ; 殷华湘 ; 李俊峰 ; 赵超![](/image/person.jpg)
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| 一种电荷俘获非挥发存储器的制造方法 专利 专利号: CN201110138464.5, 申请日期: 2014-07-23, 公开日期: 2012-11-28 作者: 谢常青 ; 王晨杰 ; 霍宗亮 ; 刘明 ; 张满红![](/image/person.jpg)
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| 采用阳极氧化Ta2O5栅介质的低温ITO薄膜晶体管 其他 2014-01-01 邵阳; 肖祥; 张盛东; 王龙彦
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| 高κ栅介质SOI nMOSFET正偏压温度不稳定性的实验研究 期刊论文 北京大学学报 自然科学版, 2014 李哲; 吕垠轩; 何燕冬; 张钢刚
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2015/11/13
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| 一种制造半导体器件的方法 专利 专利号: CN200910237545.3, 申请日期: 2013-03-27, 公开日期: 2011-05-18 作者: 王文武 ; 陈世杰; 王晓磊 ; 韩楷; 陈大鹏![](/image/person.jpg)
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| 抑制高k栅介质/金属栅结构界面层生长的方法 专利 专利号: CN200910077522.0, 申请日期: 2012-11-14, 公开日期: 2010-07-21 作者: 陈世杰; 王文武 ; 陈大鹏![](/image/person.jpg)
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| 一种改善高介电常数栅介质界面特性的方法 专利 专利号: CN200910235466.9, 申请日期: 2012-09-05, 公开日期: 2011-05-04 作者: 王文武 ; 陈大鹏![](/image/person.jpg)
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| 有机场效应晶体管最新实验研究进展 期刊论文 微纳电子技术, 2012, 期号: 5, 页码: 291-301 作者: 谢吉鹏; 马朝柱; 杨汀; 姚博; 彭应全
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| 超薄氧化锗制备、性质及退火对HfO2/GeO2/Ge MOS结构的影响 学位论文 2012, 2012 路长宝
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:4/0  |  提交时间:2016/02/14
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| 快速热氧化制备超薄GeO_2及其性质 期刊论文 2012 路长宝; 刘冠洲; 李成; 赖虹凯; 陈松岩
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:8/0  |  提交时间:2016/05/17
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