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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 发表日期：2018     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A New Principle of HVDC Protection Based on Two-terminal Electrical Quantities 会议论文 作者:  Zhang, Xinyue;  Kang, Xiaoning;  Zhang, Yagang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/11/19 DC voltage variation  Electrical quantities  External fault  High reliability  Short-circuit fault  Transition resistance  Two terminals  Voltage variation   A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 2018, 页码: 1 作者:  Jie Cui;  Xiangsheng Fang;  Jiliang Zhang;  Maoxiang Yi;  Zhengfeng Huang 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/04/22 Latches  Radiation  hardening  Clocks  Feedback  loop  Power  dissipation  Reliability  Electronic  mail  Circuit  reliability  radiation  hardening  soft  error  double-node  upset  single  node  upset.   Fault-Tolerant Control Strategies for T-Type Three-Level Inverters Considering Neutral-Point Voltage Oscillations 期刊论文 IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2018 作者:  Chen J.;  Zhang C.;  Chen A.;  Xing X. 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/11 Fault tolerance  Fault tolerant systems  Fault-tolerant control  Inverters  neutral-point voltage oscillations  open-circuit fault  Oscillators  reliability  Switches  T-type three-level inverters  Voltage control   Reliability analysis of a mini-instrument for simultaneous monitoring water content, deep tissue temperature, and hemodynamic parameters 期刊论文 2018, 卷号: 86, 页码: 72-76 作者:  Li, Ting;  Li, Zebin;  Zhao, Ke;  Pan, Boan;  Wang, Zhiyuan 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2020/01/03 Circuit  Reliability  Performance test  Noninvasive medical device   Addressing the Thermal Issues of STT-MRAM From Compact Modeling to Design Techniques 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY, 2018, 卷号: 17, 页码: 345-352 作者:  Zhang, Liuyang;  Cheng, Yuanqing;  Kang, Wang;  Torres, Lionel;  Zhang, Youguang 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/30 Magnetic tunnel junction (MTJ)  read reliability  sensing circuit  STT-MRAM  thermal fluctuations   A Full-Sensing-Margin Dual-Reference Sensing Scheme for Deeply-Scaled STT-RAM 期刊论文 IEEE ACCESS, 2018, 卷号: 6, 页码: 64250-64260 作者:  Zhang, He;  Kang, Wang;  Zhang, Youguang;  Chang, Meng-Fan;  Zhao, Weisheng 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/30 Read reliability  read disturbance  sensing circuit  sensing margin  STT-RAM