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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 专题：沈阳自动化研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 面向细胞机械特性检测的AFM探针快速定位方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN103123362A, 申请日期: 2013-05-29, 公开日期: 2015-07-08 作者:  王越超;  刘连庆;  王智博;  董再励;  袁帅 收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2013/10/15 面向细胞机械特性检测的AFM探针快速定位方法 专利 专利类型: 发明授权, 专利号: CN103123362B, 申请日期: 2013-05-29, 公开日期: 2015-07-08 作者:  王越超;  刘连庆;  王智博;  董再励;  袁帅 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2015/10/19 A Fully Automated System for Measuring Cellular Mechanical Properties 期刊论文 Journal of Laboratory Automation, 2012, 卷号: 17, 期号: 6, 页码: 443-448 作者:  Wang ZB(王智博);  Liu LQ(刘连庆);  Wang YC(王越超);  Xi N(席宁);  Dong ZL(董再励) 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2012/12/28 automation  mechanical properties of cells  atomic force microscopy (AFM)  local scan   A Fully Automated System for Measuring Cellular Mechanical Properties 期刊论文 Journal of Laboratory Automation, 2012, 卷号: 17, 期号: 6, 页码: 443-448 作者:  Wang ZB(王智博);  Liu LQ(刘连庆);  Wang YC(王越超);  Dong ZL(董再励);  Li M(李密) 收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2012/12/28 Automation  Mechanical Properties Of Cells  Atomic Force Microscopy (Afm)  Local Scan   Feature referenced tip localization enhanced by probability motion model for AFM based nanomanipulations 会议论文 2011 IEEE International Conference on Robotics and Biomimetics (ROBIO), Phuket, Thailand, December 7-11, 2011 作者:  Yuan S(袁帅);  Liu LQ(刘连庆);  Wang ZD(王志东);  Xi N(席宁);  Wang YC(王越超) 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2012/06/06 Creep  Probabilistic logic  Sensors  Trajectory  Uncertainty  Voltage control   Feature referenced tip localization enhanced by probability motion model for AFM based nanomanipulations 会议论文 Phuket, Thailand, December 7-11, 2011 作者:  Yuan S(袁帅);  Liu LQ(刘连庆);  Wang ZD(王志东);  Wang YC(王越超);  Dong ZL(董再励) 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2012/06/06 Creep  Probabilistic Logic  Sensors  Trajectory  Uncertainty  Voltage Control