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一种SOI MOS器件闪烁噪声的测试设备及测试方法 专利
专利号: CN201410031166.X, 申请日期: 2016-07-06, 公开日期: 2014-05-14
作者:  韩郑生;  曾传滨;  毕津顺;  卜建辉;  李书振
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一种SOI_MOSFET的热阻提取方法 专利
专利号: CN201310339890.4, 申请日期: 2016-03-23, 公开日期: 2013-11-27
作者:  李莹;  毕津顺;  李书振;  罗家俊;  韩郑生
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低纬子午环 专利
专利号: 01247803.2, 申请日期: 2001-09-30, 公开日期: 2002-07-31
作者:  冒蔚;  陈林飞;  王晓彬;  铁琼仙;  杨磊
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一种基于LoRa无线通信技术的冷链验证管理系统 专利
公开日期: [db:dc_date_available]
作者:  徐子峰;  连吉强;  杨孝文;  毕振生;  郭衍帅
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