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一种SOI MOS器件闪烁噪声的测试设备及测试方法 专利
专利号: CN201410031166.X, 申请日期: 2016-07-06, 公开日期: 2014-05-14
作者:  韩郑生;  曾传滨;  毕津顺;  卜建辉;  李书振
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一种SOI_MOSFET的热阻提取方法 专利
专利号: CN201310339890.4, 申请日期: 2016-03-23, 公开日期: 2013-11-27
作者:  李莹;  毕津顺;  李书振;  罗家俊;  韩郑生
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