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| 半导体器件及其制造方法 专利 专利号: CN201110311343.6, 申请日期: 2015-11-25, 公开日期: 2013-04-17 作者: 梁擎擎 ; 朱慧珑 ; 殷华湘 ; 钟汇才![](/image/person.jpg)
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| P型MOSFET的制造方法 专利 专利号: US9196706, 申请日期: 2015-11-24, 公开日期: 2014-06-05 作者: 徐秋霞; 叶甜春 ; 朱慧珑 ; 周华杰 ; 许高博![](/image/person.jpg)
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| Ion-Implanted TiN Metal Gate With Dual Band-Edge Work Function and Excellent Reliability for Advanced CMOS Device Applications 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2015 作者: Zhu HL(朱慧珑) ; Liang QQ(梁擎擎) ; Liu JB(刘金彪) ; Li JF(李俊峰) ; Xiang JJ(项金娟)![](/image/person.jpg)
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| 半导体器件的制造方法 专利 专利号: US9136181, 申请日期: 2015-09-15, 公开日期: 2014-06-05 作者: 周华杰 ; 陈大鹏 ; 许高博 ; 徐秋霞; 朱慧珑![](/image/person.jpg)
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| Impact of pattern dependency of SiGe layers grown selectively in source/drain on the performance of 22nm node pMOSFETs 期刊论文 Solid-State Electronics, 2015 作者: Li JF(李俊峰) ; Wang GL(王桂磊) ; Xu YF(徐烨峰); Luo J(罗军) ; Guo YL(郭奕栾)
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| Improved Short Channel Effect Control in Bulk FinFETs With Vertical Implantation to Form Self-Aligned Halo and Punch-Through Stop Pocket 期刊论文 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2015 作者: Chen DP(陈大鹏) ; Ye TC(叶甜春) ; Zhu HL(朱慧珑) ; Yin HX(殷华湘) ; Xu M(许淼)
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| Device parameter optimization for sub-20 nm node HK/MG-last bulk FinFETs 期刊论文 Journal of Semiconductors, 2015 作者: Zhao ZG(赵治国) ; Luo J(罗军) ; Yang H(杨红) ; Meng LK(孟令款); Hong PZ(洪培真)![](/image/person.jpg)
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