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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2004    学科主题：Physics, Multidisciplinary    内容类型：期刊论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Novel material for nonvolatile ovonic unified memory (OUM)-Ag11In12Te26Sb51 phase change semiconductor 期刊论文 CHINESE PHYSICS, 2004, 卷号: 13, 期号: 7, 页码: 1167-1170 Liu, B; Song, ZT; Zhang, T; Feng, SL; Gan, FX 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2012/03/24 AMORPHOUS THIN-FILMS  OPTICAL DISK  TELLURIDE GLASSES  HIGH-DENSITY  CRYSTALLIZATION  TRANSITION  GE20TE80-XBIX  AG   Raman spectra and XPS studies of phase changes in Ge2Sb2Te5 films 期刊论文 CHINESE PHYSICS, 2004, 卷号: 13, 期号: 11, 页码: 1947-1950 Liu, B; Song, ZT; Zhang, T; Feng, SL; Chen, BM 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/03/24 TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY  CRYSTALLIZATION BEHAVIOR  THIN-FILMS  MEMORY  SPECTROSCOPY  TRANSITIONS  MEDIA  SB   Structure and electrical properties of Ge2Sb2Te5 thin film used for Ovonic unified memory 期刊论文 CHINESE PHYSICS LETTERS, 2004, 卷号: 21, 期号: 4, 页码: 741-743 Zhang, T; Liu, B; Xia, JL; Song, ZT; Feng, SL; Chen, B 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2012/03/24 REVERSIBLE PHASE-TRANSITION  TELLURIDE GLASSES  CRYSTALLIZATION  SEMICONDUCTORS  GE20TE80-XBIX