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新疆理化技术研究所 [16]
内容类型
期刊论文 [16]
发表日期
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2017 [5]
2016 [3]
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内容类型:期刊论文
专题:新疆理化技术研究所
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电离总剂量效应对4T CMOS图像传感器暗电流影响的数值仿真
期刊论文
数值计算与计算机应用, 2020, 卷号: 41, 期号: 2, 页码: 143-150
作者:
魏莹
;
文林
;
李豫东
;
郭旗
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2020/09/07
CMOS图像传感器
电离总剂量辐射效应
TCAD仿真
8T-全局曝光CMOS图像传感器单粒子翻转及损伤机理
期刊论文
光学学报, 2019, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 41-49
作者:
汪波
;
王立恒
;
刘伟鑫
;
孔泽斌
;
李豫东
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2019/07/01
探测器
互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器
重离子辐照
单粒子翻转
损伤机理
γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制
期刊论文
发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 244-250
作者:
文林
;
李豫东
;
郭旗
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2018/03/13
电荷耦合器件
电离效应
位移损伤
光谱响应
光通信网络中的信号导向逻辑器件设计
期刊论文
半导体光电, 2018, 卷号: 39, 期号: 6, 页码: 802-805+814
作者:
王蒙
;
蒋同海
;
唐新余
;
张岩
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2020/03/25
光通信网络
导向逻辑
微环谐振器
电光逻辑门
光开关
CMOS图像传感器在质子辐照下热像素的产生和变化规律
期刊论文
发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 1697-1704
作者:
王田珲
;
李豫东
;
文林
;
冯婕
;
蔡毓龙
收藏
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浏览/下载:55/0
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提交时间:2020/03/25
CMOS图像传感器
热像素
质子辐照
位移损伤
暗信号
CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理
期刊论文
光学精密工程, 2017, 卷号: 25, 期号: 10, 页码: 2676-2681
作者:
冯婕
;
李豫东
;
文林
;
周东
;
马林东
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2017/11/20
Cmos图像传感器
辐照
光子转移曲线
转换增益
基于X射线的晶圆级器件辐照与辐射效应参数提取设备的设计与实现
期刊论文
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 6, 页码: 828-834
作者:
荀明珠
;
李豫东
;
郭旗
;
何承发
;
于新
;
于钢
;
文林
;
张兴尧
;
郭旗
;
何承发
;
李豫东
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2017/08/01
抗辐射加固
试验装置
晶圆级器件
X射线辐照
辐射效应
参数提取
CMOS有源像素图像传感器的电子辐照损伤效应研究
期刊论文
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 2, 页码: 182-187
作者:
玛丽娅
;
李豫东
;
郭旗
;
刘昌举
;
文林
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2017/02/23
电子辐照
CMOS有源像素传感器
暗信号
In0.22Ga0.78As/GaAs量子阱光致发光谱电子辐照效应研究
期刊论文
光学学报, 2017, 卷号: 37, 期号: 2
作者:
玛丽娅
;
郭旗
;
艾尔肯
;
李豫东
;
李占行
;
文林
;
周东
;
郭旗
;
李豫东
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2016/12/02
辐射
损伤
光致发光谱
量子阱
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