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半导体制造方法 专利
申请日期: 2011-04-17,
作者:  李俊峰;  李春龙
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对管式差分输出PMOS辐射剂量计 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL200410094862.1, 申请日期: 2007-01-24, 公开日期: 2013-11-27
作者:  郭旗
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一种能对电离辐射总剂量进行测量的新型固体剂量仪 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL98125702.X, 申请日期: 2003-07-23, 公开日期: 2013-11-27
范隆; 严荣良; 任迪远
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