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浏览/检索结果: 共19条，第1-10条 帮助 限定条件 内容类型：专利    专题：半导体研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12, 2010-10-15 作者:  杨晓红 收藏  |  浏览/下载：96/0  |  提交时间：2010/08/12 在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-03-31, 2010-08-12, 2010-10-15 作者:  杨晓红 收藏  |  浏览/下载：115/0  |  提交时间：2010/08/12 便携式多信道光电子芯片测试信号发生装置及测试方法 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2007-06-13, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11, 2010-10-15 作者:  李运涛 收藏  |  浏览/下载：94/6  |  提交时间：2009/06/11 半导体光电子器件芯片测试用的夹具 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2007-04-25, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11, 2010-10-15 刘超; 袁海庆; 祝宁华 收藏  |  浏览/下载：154/33  |  提交时间：2009/06/11 一种热光开关阵列光电特性测试装置及方法 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2006-12-27, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11, 2010-10-15 作者:  李运涛 收藏  |  浏览/下载：88/4  |  提交时间：2009/06/11 测量光电子器件TO封装座高频参数用的测试夹具 专利 专利类型: 发明, 申请日期: 2006-09-20, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11, 2010-10-15 张尚剑; 祝宁华 收藏  |  浏览/下载：142/12  |  提交时间：2009/06/11 变温的高阻半导体材料光电测试装置 专利 专利类型: 实用新型, 申请日期: 2001-08-22, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11, 2010-10-15 张砚华; 卢励吾; 樊志军 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2009/06/11 一种控温的半导体光电特性测试样品架 专利 专利类型: 实用新型, 申请日期: 1999-07-28, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11, 2010-10-15 张砚华; 卢励吾 收藏  |  浏览/下载：56/5  |  提交时间：2009/06/11 具有灵活测量几何的变温显微磁光电测试系统 专利 专利号: CN200910093882.X, 公开日期: 2011-08-30, 2011-04-20, 2011-08-30 作者:  吴昊;  郑厚植;  朱汇;  李韫慧 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2011/08/30 波长编码的光时域反射测试装置及其测量方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN200810240937.0, 公开日期: 2011-08-30 祝宁华; 刘宇; 谢亮; 王欣; 袁海庆 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2011/08/30