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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 学科主题：Engineering (provided by Thomson Reuters)     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 星载DC-DC电源转换器总剂量辐射损伤效应研究 期刊论文 原子能科学技术, 2011, 卷号: 45, 期号: 7, 页码: 888-892 作者:  高博;  余学峰;  任迪远;  李豫东;  李茂顺 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2012/11/29 DC-DC电源转换器  辐射损伤效应  退火效应   80C31单片机电路总剂量效应研究 期刊论文 微电子学, 2005, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 584-586,590 作者:  匡治兵;  郭旗;  任迪远;  李爱武;  汪东 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2012/11/29 单片机  60Coγ辐照  辐射损伤  退火   CMOS运算放大器的辐照和退火行为 期刊论文 半导体学报, 2004, 卷号: 25, 期号: 6, 页码: 731-734 作者:  任迪远;  陆妩;  郭旗;  余学锋;  王明刚 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/11/29 CMOS运算放大器  电离辐射  退火   不同注F剂量与CMOS运放电路辐照损伤的相关性 期刊论文 半导体学报, 2003, 卷号: 24, 期号: 7, 页码: 780-784 作者:  任迪远;  陆妩;  余学锋;  郭旗;  张国强 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2012/11/29 注FCMOS运算放大器  电离辐照  跨导