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栅控横向PNP双极晶体管电离辐射效应 期刊论文
Nuclear Techniques, 2012, 卷号: 35, 期号: 11
作者:  Xi Shanbin;  Lu Wu;  Ren Diyuan;  Wang Zhikuan;  Zhou Dong
收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2013/11/07
p型金属氧化物半导体场效应晶体管低剂量率辐射损伤增强效应模型研究 期刊论文
物理学报, 2011, 卷号: 60, 期号: 6, 页码: 812-818
作者:  高博;  余学峰;  任迪远;  崔江维;  兰博
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2012/11/29
12位BiCMOS模数转换器的剂量率效应 期刊论文
核技术, 2011, 卷号: 34, 期号: 9, 页码: 669-674
作者:  吴雪;  陆妩;  王义元;  胥佳灵;  张乐情
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/11/29
电荷耦合器件的~(60)Coγ射线和电子辐射损伤效应 期刊论文
原子能科学技术, 2010, 卷号: 44, 期号: 1, 页码: 124-128
作者:  李鹏伟;  郭旗;  任迪远;  于跃;  王义元
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/11/29
80C31单片机电路总剂量效应研究 期刊论文
微电子学, 2005, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 584-586,590
作者:  匡治兵;  郭旗;  任迪远;  李爱武;  汪东
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2012/11/29
栅氧层厚度与CMOS运算放大器电离辐射效应的关系 期刊论文
核技术, 2005, 卷号: 28, 期号: 3, 页码: 227-230
作者:  陆妩;  任迪远;  郭旗;  余学锋;  郑毓峰
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2012/11/29
MOS结构热载子注入与总剂量辐照响应的相关性 期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 10, 页码: 1975-1978
作者:  余学峰;  任迪远;  艾尔肯;  张国强;  陆妩
收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2012/11/29
CMOS运算放大器的辐照和退火行为 期刊论文
半导体学报, 2004, 卷号: 25, 期号: 6, 页码: 731-734
作者:  任迪远;  陆妩;  郭旗;  余学锋;  王明刚
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/11/29
不同注F剂量与CMOS运放电路辐照损伤的相关性 期刊论文
半导体学报, 2003, 卷号: 24, 期号: 7, 页码: 780-784
作者:  任迪远;  陆妩;  余学锋;  郭旗;  张国强
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2012/11/29

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