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科研机构
半导体研究所 [6]
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期刊论文 [5]
会议论文 [1]
发表日期
2003 [1]
2002 [1]
1998 [1]
1996 [1]
1994 [1]
1993 [1]
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学科主题
半导体材料 [6]
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学科主题:半导体材料
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Effects and numerical analysis of argon gas flow on the oxygen concentration in Czochralski silicon single crystal growth
会议论文
iumrs/icem 2002 conference, xian, peoples r china, jun 10-14, 2002
Zhang ZC
;
Ren BY
;
Chen YH
;
Yang SY
;
Wang ZG
收藏
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2010/11/15
Czochralski method
growth from melt
semiconductor silicon
argon gas flow
computer simulation
oxygen content
FURNACE PRESSURE
Improved purity of long-wavelength InAsSb epilayers grown by melt epitaxy in fused silica boats
期刊论文
journal of crystal growth, 2002, 卷号: 234, 期号: 1, 页码: 85-90
Gao YZ
;
Kan H
;
Gao FS
;
Gong XY
;
Yamaguchi T
收藏
  |  
浏览/下载:85/4
  |  
提交时间:2010/08/12
purification
X-ray diffraction
melt epitaxy
narrow gap materials
semiconducting III-V materials
CUTOFF WAVELENGTH
SINGLE-CRYSTALS
MU-M
INFRARED PHOTODETECTORS
GAAS
Gallium diffusion through cubic GaN films grown on GaAs(100) at high-temperature using low-pressure MOVPE
期刊论文
journal of crystal growth, 1998, 卷号: 191, 期号: 4, 页码: 646-650
Xu DP
;
Yang H
;
Zheng LX
;
Wang XJ
;
Duan LH
;
Wu RH
收藏
  |  
浏览/下载:29/0
  |  
提交时间:2010/08/12
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
GAAS
NITRIDATION
Structure and device characteristics of AlxGa1-xAs/GaAs solar cells
期刊论文
journal of crystal growth, 1996, 卷号: 162, 期号: 0, 页码: 43-47
Li B
;
Xiang XB
;
You ZP
;
Xu Y
;
Fei XY
收藏
  |  
浏览/下载:12/0
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提交时间:2010/11/17
REGROWTH
LAYERS
SURFACE
GAAS
AL
DEEP CENTER SCATTERING POTENTIAL IN INGAP
期刊论文
journal of applied physics, 1994, 卷号: 76, 期号: 11, 页码: 7410-7414
ZHU QS
;
HIRAMATSU K
;
SAWAKI N
;
AKASAKI I
;
LIU XN
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2010/11/15
SEMICONDUCTORS
DEFECTS
VACANCY
SILICON
LEVEL
LPE
FIELD-EFFECT ON THERMAL EMISSION FROM THE 0.40 EV ELECTRON LEVEL IN INGAP
期刊论文
journal of applied physics, 1993, 卷号: 73, 期号: 2, 页码: 771-774
ZHU QS
;
HIRAMATSU K
;
SAWAKI N
;
AKASAKI I
;
LIU XN
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2010/11/15
LIQUID-PHASE EPITAXY
100 GAAS
TRANSIENT SPECTROSCOPY
OPTICAL-PROPERTIES
SEMICONDUCTORS
SILICON
VACANCY
DEFECTS
TRAPS
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