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科研机构
半导体研究所 [7]
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会议论文 [1]
发表日期
2010 [1]
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2008 [1]
2006 [1]
2001 [1]
2000 [1]
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学科主题
半导体材料 [7]
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学科主题:半导体材料
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The two- to three-dimensional growth transition of InAs/GaAs epitaxy layer studied by reflectance difference spectroscopy
期刊论文
journal of applied physics, 2010, 卷号: 108, 期号: 8, 页码: art. no. 083513
Zhou GY (Zhou G. Y.)
;
Chen YH (Chen Y. H.)
;
Tang CG (Tang C. G.)
;
Liang LY (Liang L. Y.)
;
Jin P (Jin P.)
;
Wang ZG (Wang Z. G.)
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2010/12/05
QUANTUM-DOT SYSTEM
ISLAND FORMATION
IN-SITU
EVOLUTION
GAAS
PHOTOLUMINESCENCE
Annealing study of carrier concentration in gradient-doped GaAs/GaAlAs epilayers grown by molecular beam epitaxy
期刊论文
applied optics, 2009, 卷号: 48, 期号: 9, 页码: 1715-1720
Zhang YJ
;
Chang BK
;
Yang Z
;
Niu J
;
Xiong YJ
;
Shi F
;
Guo H
;
Zeng YP
收藏
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浏览/下载:65/25
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提交时间:2010/03/08
GAAS PHOTOCATHODES
GALLIUM-ARSENIDE
ALXGA1-XAS
DIFFUSION
SURFACE
ENERGY
Dislocation core effect scattering in a quasitriangle potential well
期刊论文
applied physics letters, 2009, 卷号: 94, 期号: 11, 页码: art. no. 112102
作者:
Wei HY
收藏
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浏览/下载:236/104
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提交时间:2010/03/08
aluminium compounds
carrier density
carrier mobility
dislocation density
dislocation scattering
gallium compounds
III-V semiconductors
semiconductor heterojunctions
wide band gap semiconductors
Peculiarity of constant photocurrent method for silicon films with mixed amorphous-nanocrystalline structure
期刊论文
journal of non-crystalline solids, 2008, 卷号: 354, 期号: 19-25, 页码: 2282-2285
Kazanskii, AG
;
Kong, GL
;
Zeng, XB
;
Hao, HY
;
Liu, FZ
收藏
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浏览/下载:104/29
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提交时间:2010/03/08
silicon
conductivity
chemical vapor deposition
microcrystallinity
absorption
photoconductivity
A comparison between contactless electroreflectance and photoreflectance spectra from n-doped GaAs on a semi-insulating GaAs substrate
期刊论文
semiconductor science and technology, 2006, 卷号: 21, 期号: 10, 页码: 1467-1471
Jin P (Jin Peng)
;
Pan SH (Pan S. H.)
;
Li YG (Li Y. G.)
;
Zhang CZ (Zhang C. Z.)
;
Wang ZG (Wang Z. G.)
收藏
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2010/04/11
FRANZ-KELDYSH OSCILLATIONS
DIFFERENTIAL PHOTOREFLECTANCE
MODULATION SPECTROSCOPY
FOURIER TRANSFORMATION
INTERFACES
SURFACE
Structural characterization of cubic GaN grown on GaAs(001) substrates
期刊论文
chinese journal of electronics, 2001, 卷号: 10, 期号: 2, 页码: 219-222
Zheng XH
;
Qu B
;
Wang YT
;
Yang H
;
Liang JW
;
Han JY
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浏览/下载:93/4
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提交时间:2010/08/12
cubic GaN
X-ray double crystal diffraction
structural characteristics
CONTINUOUS-WAVE OPERATION
EPITAXIAL-GROWTH
HEXAGONAL GAN
LASER-DIODES
THIN-FILMS
MBE
Residual donors in undoped LEC InP
会议论文
11th international semiconducting and insulating materials conference (simc-xi), canberra, australia, jul 03-07, 2000
Zhao YW
;
Sun NF
;
Sun TN
;
Lin LY
;
Wu XW
;
Guo WL
;
Wu X
;
Bi KY
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2010/10/29
INDIUM-PHOSPHIDE
CARBON
DEFECTS
GROWTH
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