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半导体研究所 [23]
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学科主题:光电子学
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AlGaN基深紫外发光二极管和激光器关键技术研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2016
田迎冬
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浏览/下载:81/0
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提交时间:2016/06/01
AlN
AlGaN 基深紫外 LED
AlGaN 基紫外 Laser
AlN 纳米柱
半极性面纳米锥
采用低温缓冲层技术在Si衬底上生长高质量Ge薄膜
期刊论文
光电子·激光, 2011, 卷号: 22, 期号: 7, 页码: 1030-1033
周志文
;
贺敬凯
;
李成
;
余金中
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2012/07/17
Investigation on the strain relaxation of InGaN layer and its effects on the InGaN structural and optical properties
期刊论文
physica b-condensed matter, 2010, 卷号: 405, 期号: 22, 页码: 4668-4672
Wang H (Wang H.)
;
Jiang DS (Jiang D. S.)
;
Jahn U (Jahn U.)
;
Zhu JJ (Zhu J. J.)
;
Zhao DG (Zhao D. G.)
;
Liu ZS (Liu Z. S.)
;
Zhang SM (Zhang S. M.)
;
Qiu YX (Qiu Y. X.)
;
Yang H (Yang H.)
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2010/12/12
InGaN
Dislocation
Metalorganic chemical vapor deposition
High resolution X-ray diffraction
Cathodoluminescence
MISFIT DISLOCATIONS
QUANTUM-WELLS
BAND-GAP
EPILAYERS
GENERATION
ALLOYS
INN
Si衬底上Ge材料的UHVCVD生长
期刊论文
材料科学与工程学报, 2009, 卷号: 27, 期号: 1, 页码: 118-120
作者:
薛海韵
;
成步文
;
薛春来
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2010/11/23
Thickness dependent dislocation, electrical and optical properties in InN films grown by MOCVD
期刊论文
acta physica sinica, 2009, 卷号: 58, 期号: 5, 页码: 3416-3420
作者:
Li Y
;
Chen P
;
Jiang DS
;
Wang H
;
Wang ZG
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浏览/下载:50/4
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提交时间:2010/03/08
InN
dislocation
carrier origination
localization
穿透型V形坑对GaN基p-i-n结构紫外探测器反向漏电的影响
期刊论文
物理学报, 2009, 卷号: 58, 期号: 11, 页码: 7952-7957
作者:
王玉田
;
江德生
;
赵德刚
;
朱建军
;
张书明
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2010/11/23
UHV/CVD法生长硅基低位错密度厚锗外延层
期刊论文
半导体学报, 2008, 卷号: 29, 期号: 2, 页码: 315-318
周志文
;
蔡志猛
;
张永
;
蔡坤煌
;
周笔
;
林桂江
;
汪建元
;
李成
;
赖虹凯
;
陈松岩
;
余金中
;
王启明
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2010/11/23
富硅氮化硅薄膜的制备及其发光特性
期刊论文
半导体光电, 2007, 卷号: 28, 期号: 2, 页码: 209-212
曾友华
;
郭亨群
;
王启明
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2010/11/23
The effects of LT AlN buffer thickness on the properties of high Al composition AlGaN epilayers
期刊论文
materials letters, 2006, 卷号: 60, 期号: 29-30, 页码: 3693-3696
Wang XL (Wang X. L.)
;
Zhao DG (Zhao D. G.)
;
Li XY (Li X. Y.)
;
Gong HM (Gong H. M.)
;
Yang H (Yang H.)
;
Liang JW (Liang J. W.)
收藏
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浏览/下载:108/0
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提交时间:2010/04/11
AlGaN
LT AlN
TAXRD
dislocation
In源流量与Ⅲ族流量之比对InGaN/GaN多量子阱性质的影响
期刊论文
物理学报, 2004, 卷号: 53, 期号: 8, 页码: 2467-2471
作者:
王玉田
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提交时间:2010/11/23
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