QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 学科主题：光学薄膜     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 基底温度对直流磁控溅射ITO透明导电薄膜性能的影响 期刊论文 中国激光, 2008, 卷号: 35, 期号: 12, 页码: 2031, 2035 曾维强; 姚建可; 贺洪波; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：1258/160  |  提交时间：2009/09/22 薄膜  ITO透明导电膜  基底温度  直流磁控溅射  Crystal grain sizes  Direct current magnetron sputtering  Direct currents  Glass substrates  Indium oxides  Interplanar spacings  ITO transparent conductive thin films  Mass fractions  Substrate temperature  X-ray diffractions   Mo／Si软X射线多层膜的界面粗糙度研究 期刊论文 强激光与粒子束, 2007, 卷号: 19, 期号: 5, 页码: 763, 766 秦俊岭; 邵建达; 易葵; 周洪军; 霍同林; 范正修 收藏  |  浏览/下载：836/184  |  提交时间：2009/09/22 Mo／Si多层膜  Atomic force microscopy  软X射线  Magnetron sputtering  界面粗糙度  Surface roughness  反射率  X ray diffraction   用不同的Mo靶溅射功率制备Mo／Si多层膜 期刊论文 强激光与粒子束, 2007, 卷号: 19, 期号: 1, 页码: 67, 70 秦俊岭; 邵建达; 易葵 收藏  |  浏览/下载：965/169  |  提交时间：2009/09/22 Mo靶  Atomic force microscopy  Mo／Si多层膜  Magnetron sputtering  溅射功率  Molybdenum  软X射线  Reflection  反射率  Surface morphology  Surface roughness  X ray diffraction analysis  X rays   Influence of buffer layer thickness on the structure and optical properties of ZnO thin films 期刊论文 appl. surf. sci., 2006, 卷号: 252, 期号: 8, 页码: 2888, 2893 洪瑞金; 邵建达; 贺洪波; 范正修 收藏  |  浏览/下载：973/126  |  提交时间：2009/09/22 zinc oxide  sputtering  structure  photoluminescence   Influence of different post-treatments on the structure and optical properties of zinc oxide thin films 期刊论文 appl. surf. sci., 2005, 卷号: 242, 期号: 3~4, 页码: 346, 352 洪瑞金; Huang JB; 贺洪波; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：887/69  |  提交时间：2009/09/22 zinc oxide  thin films  annealing  ion beam bombardment   Influence of oxygen partial pressure on the structure and photoluminescence of direct current reactive magnetron sputtering ZnO thin films 期刊论文 thin solid films, 2005, 卷号: 473, 期号: 1, 页码: 58, 62 洪瑞金; 齐红基; Huang JB; He GB; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：528/59  |  提交时间：2009/09/22 zinc oxide  sputtering  liminescence  optical properties   不同类型蒸发源对平面夹具薄膜均匀性的影响 期刊论文 强激光与粒子束, 2005, 卷号: 17, 期号: 10, 页码: 1518, 1522 董磊; 赵元安; 易葵; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：622/108  |  提交时间：2009/09/22 薄膜  Film  均匀性  Uniformity  蒸发源  Evaporation source  挖坑效应   The effects of oxygen partial pressure on the optical absorption edge and the UV emission energy of ZnO films 期刊论文 chin. opt. lett., 2005, 卷号: 3, 期号: 7, 页码: 428, 431 Ruijin Hong; Jianda Shao; Hongbo He; 范正修 收藏  |  浏览/下载：894/105  |  提交时间：2009/09/22 thin films  300.6470  spectroscopy  semiconductors  310.6860  thin films  optical properties  170.6280  spectroscopy  fluorescence and luminescence