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科研机构
微电子研究所 [4]
内容类型
专利 [4]
发表日期
2015 [4]
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发表日期:2015
内容类型:专利
专题:微电子研究所
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后栅工艺移除多晶硅假栅制程的监控方法
专利
专利号: CN201110149722.X, 申请日期: 2015-12-09, 公开日期: 2012-12-05
作者:
杨涛
;
赵超
;
李俊峰
;
闫江
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陈大鹏
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2016/09/18
一种数字集成电路测试总线接口
专利
专利号: CN201310006983.5, 申请日期: 2015-11-11, 公开日期: 2013-04-17
作者:
谢朝辉
;
周玉梅
;
黑勇
;
刘海南
;
王德坤
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2016/09/13
一种CMOS集成电路中基准电流源产生电路
专利
专利号: CN201110427584.7, 申请日期: 2015-04-01, 公开日期: 2013-06-19
作者:
姜宇
;
郭桂良
;
阎跃鹏
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2016/06/20
片上集成CMOS可编程斩波振荡器电路
专利
申请日期: 2015-01-01,
作者:
刘珂
;
张任伟
;
杜占坤
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2018/02/05
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