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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 学科主题：Engineering (provided by Thomson Reuters)     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 电荷耦合器件的~(60)Co γ射线辐照损伤退火效应 期刊论文 原子能科学技术, 2010, 卷号: 44, 期号: 5, 页码: 603-607 作者:  李鹏伟;  郭旗;  任迪远;  于跃;  兰博 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/11/29 商用CCD  氧化物电荷  界面态  退火效应   80C31单片机电路总剂量效应研究 期刊论文 微电子学, 2005, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 584-586,590 作者:  匡治兵;  郭旗;  任迪远;  李爱武;  汪东 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2012/11/29 单片机  60Coγ辐照  辐射损伤  退火   间,对三氟甲基苯腈的工艺改进 期刊论文 中国科学院研究生院学报, 2003, 卷号: 20, 期号: 1, 页码: 103-106 作者:  刘刚 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2012/11/30 间三氟甲基苯腈  对三氟甲基苯腈  间氯三氟甲苯  对氯三氟甲苯  三(三苯基膦)合镍(0)