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2009 [1]
2006 [1]
2005 [1]
2004 [1]
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Investigation of the OFF-State Behavior in Deep-Submicrometer NMOSFETs Under Heavy-Ion Irradiation by 3-D Simulation
期刊论文
2011
Xue, Shoubin
;
Wang, Pengfei
;
Huang, Ru
;
Zhang, Xing
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2015/11/10
Heavy-ion irradiation
NMOSFETs
OFF-state leakage
physical damage region
SHALLOW-TRENCH ISOLATION
THIN GATE OXIDES
CMOS TECHNOLOGIES
SOFT BREAKDOWN
DRAIN CURRENT
MOSFETS
CHARGE
IMPACT
Defect Size Effect and Defect Band Conduction of Ultrathin Oxides After Degradation and Breakdown
期刊论文
ieee electron device letters, 2009
Xu, Mingzhen
;
Tan, Changhua
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/10
Defect band
oxide defect
ultrathin oxide
SOFT BREAKDOWN
SILICON-OXIDE
GATE OXIDES
LAYERS
MODEL
A family of stable silica fullerenes with fully coordinated structures
期刊论文
The journal of physical chemistry, B. Condensed matter, materials, surfaces, interfaces & biophysical, 2006, 卷号: 110, 期号: 36, 页码: 17757-17762
作者:
Zhang DJ
;
Wu J
;
Zhang RQ
;
Liu CB
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2020/01/03
AB-INITIO CALCULATIONS
OXIDE CLUSTERS
ELECTRONIC-STRUCTURE
MASS-SPECTROMETRY
SOFT BREAKDOWN
STABILITY
NANOTUBES
MOLECULES
BUCKMINSTERFULLERENE
NANOPARTICLES
超薄栅氧化层n-MOSFET软击穿后的导电机制
期刊论文
物理学报, 2005
王彦刚
;
许铭真
;
谭长华
;
段小蓉
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2015/11/12
软击穿 栅电流 类Fowler-Nordheim隧穿 超薄栅氧化层
soft breakdown
gate current
Fowler
Nordheim-like tunneling
ultra-thin gate oxide
The statistical analysis of substrate current to soft breakdown in ultra-thin gate oxide n-MOSFETs
其他
2004-01-01
Wang, YG
;
Shi, K
;
Jia, GS
;
Xu, MZ
;
Tan, CH
;
Duan, XR
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/13
substrate current
soft breakdown
ultra-thin gate oxide
Weibull distribution
variable frequency light pumping
LAYERS
Reliability characteristics of high-K gate dielectrics HfO2 in metal-oxide semiconductor capacitors
其他
2003-01-01
Han, DD
;
Kang, JF
;
Lin, CH
;
Han, RQ
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/10
reliability
high-K
HfO2
gate dielectrics
INDUCED LEAKAGE CURRENT
HARD BREAKDOWN
SILICON
SIMULATION
MOSFETS
SOFT
Low frequency current noise in 2.5 nm MOSFET and fractal dimension of soft breakdown
期刊论文
固体电子学, 2003
Huo, ZL
;
Mao, LF
;
Xu, MZ
;
Tan, CH
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/10
MOS devices
noise
fractal
percolation
soft breakdown
FIELD-EFFECT TRANSISTORS
OXIDE LAYERS
STRESS
MODEL
GATE
超薄栅氧化物pMOSFET器件在软击穿后的特性
期刊论文
半导体学报, 2003
张贺秋
;
许铭真
;
谭长华
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2015/11/11
FN隧穿
软击穿
超薄
MOSFET
FN tunneling
MOSFET
soft breakdown
ultra-thin
Nonlinear 1/f noise in ultrathin gate MOSFETs undergoing soft breakdown
期刊论文
chinese journal of electronics, 2002
Huo, ZL
;
Mao, LF
;
Yang, GY
;
Tan, CH
;
Xu, MZ
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
noise phenomena
soft breakdown
MOSFET (metal-oxide-semiconductor field effect
transistor)
random process
HARD BREAKDOWN
OXIDES
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