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Investigation of the OFF-State Behavior in Deep-Submicrometer NMOSFETs Under Heavy-Ion Irradiation by 3-D Simulation 期刊论文
2011
Xue, Shoubin; Wang, Pengfei; Huang, Ru; Zhang, Xing
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Defect Size Effect and Defect Band Conduction of Ultrathin Oxides After Degradation and Breakdown 期刊论文
ieee electron device letters, 2009
Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
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A family of stable silica fullerenes with fully coordinated structures 期刊论文
The journal of physical chemistry, B. Condensed matter, materials, surfaces, interfaces & biophysical, 2006, 卷号: 110, 期号: 36, 页码: 17757-17762
作者:  Zhang DJ;  Wu J;  Zhang RQ;  Liu CB
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超薄栅氧化层n-MOSFET软击穿后的导电机制 期刊论文
物理学报, 2005
王彦刚; 许铭真; 谭长华; 段小蓉
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The statistical analysis of substrate current to soft breakdown in ultra-thin gate oxide n-MOSFETs 其他
2004-01-01
Wang, YG; Shi, K; Jia, GS; Xu, MZ; Tan, CH; Duan, XR
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Reliability characteristics of high-K gate dielectrics HfO2 in metal-oxide semiconductor capacitors 其他
2003-01-01
Han, DD; Kang, JF; Lin, CH; Han, RQ
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Low frequency current noise in 2.5 nm MOSFET and fractal dimension of soft breakdown 期刊论文
固体电子学, 2003
Huo, ZL; Mao, LF; Xu, MZ; Tan, CH
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超薄栅氧化物pMOSFET器件在软击穿后的特性 期刊论文
半导体学报, 2003
张贺秋; 许铭真; 谭长华
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Nonlinear 1/f noise in ultrathin gate MOSFETs undergoing soft breakdown 期刊论文
chinese journal of electronics, 2002
Huo, ZL; Mao, LF; Yang, GY; Tan, CH; Xu, MZ
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