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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Analog Circuit Test Point Selection Incorporating Discretization-Based Fuzzification and Extended Fault Dictionary to Handle Component Tolerances 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2016, 卷号: 32, 页码: 661-679 作者:  Cui, Yiqian;  Shi, Junyou;  Wang, Zili 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/12/30 Test point selection  Clustering-based discretization (CBD)  Extended fault dictionary (EFD)  Entropy measure  Analog circuit fault diagnosis