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内容类型
期刊论文 [6]
发表日期
2018 [1]
2017 [1]
2015 [1]
2005 [1]
1998 [2]
学科主题
materials ... [1]
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Research on Secondary Electron Emission and Multipactor Discharge via Surface Micro-trapped Structure
期刊论文
Jixie Gongcheng Xuebao/Journal of Mechanical Engineering, 2018, 卷号: 54, 页码: 121-127
作者:
Feng, Guobao
;
Cui, Wanzhao
;
Hu, Tiancun
;
Chen, Bangdao
;
Wang, Ning
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提交时间:2019/11/26
Cylindrical holes
Elastic backscattering
Emitted electron
Maximum secondary electron yields
Multipactor discharge
Secondary electron emissions
Secondary electrons
Testing platforms
Ion Beam Elastic Backscattering Spectrometric Analysis of Ion Implantation Modified Glass Filled Ruby
期刊论文
China Surface Engineering, 2017, 卷号: 30, 期号: 4
作者:
差崴·差庸(泰)
;
Yu LD(俞良登)
;
提帕万·乌冬拉(泰)
;
Li H(李慧)
;
Ren F(任峰)
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/05
ion beam analysis
elastic backscattering spectrometry
ion implantation
ruby
glass filled
lead (Pb)
Instrumentation and application of the ion beam analysis line of the in situ ion beam system
期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2015, 卷号: 26, 期号: 1
作者:
Huang Zhi-Hong
;
Zhang Zao-Di
;
Wang Ze-Song
;
Wang Lang-Ping
;
Fu De-Jun
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/12/05
Ion beam analysis
Channeling
Rutherford backscattering
Non-Rutherford elastic backscattering
Depth dependent elastic strain in zno epilayer: combined rutherford backscattering/channeling and x-ray diffraction
期刊论文
Nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms, 2005, 卷号: 229, 期号: 2, 页码: 246-252
作者:
Feng, ZX
;
Yao, SD
;
Hou, L
;
Jin, RQ
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2019/05/12
Rutherford backscattering/channeling
Elastic strain
Tetragonal distortion
Lattice mismatich
Formation of titanium nitride films by energetic cluster impact deposition
期刊论文
Thin solid films, 1998, 卷号: 335, 期号: 1-2, 页码: 59-63
作者:
Yu, GQ
;
Chen, JS
;
Shi, Y
;
Pan, HC
;
Zhu, DZ
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2019/04/23
Titanium nitride
Rutherford backscattering spectrometry
Proton elastic scattering
X-ray diffraction
Formation of titanium nitride films by energetic cluster impact deposition
期刊论文
THIN SOLID FILMS, 1998, 卷号: 335, 期号: 1-2, 页码: 59-63
作者:
Yu, GQ
;
Chen, JS
;
Shi, Y
;
Pan, HC
;
Zhu, DZ
收藏
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提交时间:2015/12/15
titanium nitride
Rutherford backscattering spectrometry
proton elastic scattering
X-ray diffraction
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