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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Influence of diffuser grain size on the speckle tracking technique 期刊论文 JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION, 2020, 卷号: 27, 页码: 146-157 作者:  Tian, NX;  Jiang, H;  Li, AG;  Liang, DX;  Yan, S 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2021/09/06 AT-WAVELENGTH METROLOGY  PHASE RETRIEVAL   A piezoelectric deformable X-ray mirror for phase compensation based on global optimization 期刊论文 JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION, 2019, 卷号: 26, 期号: -, 页码: 729—736 作者:  Jiang, H;  Tian, NX;  Liang, DX;  Du, GH;  Yan, S 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2019/12/30 AT-WAVELENGTH METROLOGY  IN-SITU METROLOGY   Extraction of medium-spatial-frequency interfacial waviness and inner structure from X-ray multilayers using the speckle scanning technique 期刊论文 OPTICAL MATERIALS EXPRESS, 2019, 卷号: 9, 期号: 7, 页码: 2878-2891 作者:  Jiang, H;  Ya, S;  Tian, NX;  Liang, DX;  Dong, ZH 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2020/10/16 AT-WAVELENGTH METROLOGY  SYNCHROTRON-RADIATION  TOTAL-REFLECTION  ROUGHNESS  FILMS  FIELD  CR/C