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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2007 [2]
2006 [2]
学科主题
光电子学 [2]
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Measurement of a reciprocal four-port transmission line structure using the 16-term error model
期刊论文
Microwave and optical technology letters, 2007, 卷号: 49, 期号: 7, 页码: 1511-1515
作者:
Zhang, Yun
;
Silvonen, Kirnmo
;
Zhu, Ning H.
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/05/12
16-term error model
Four-port
Transmission lines
Calibration
Error sensitivity
Deembedding
Scattering parameters
Test fixture
Measurement of a reciprocal four-port transmission line structure using the 16-term error model
期刊论文
microwave and optical technology letters, 2007, 卷号: 49, 期号: 7, 页码: 1511-1515
Zhang Y (Zhang, Yun)
;
Silvonen K (Silvonen, Kirnmo)
;
Zhu NH (Zhu, Ning H.)
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2010/03/29
16-term error model
A 16-term error model based on linear equations of voltage and current variables
期刊论文
Ieee transactions on microwave theory and techniques, 2006, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 1464-1469
作者:
Silvonen, K
;
Zhu, NH
;
Liu, Y
收藏
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浏览/下载:32/0
  |  
提交时间:2019/05/12
Calibration
Deembedding
Error model
15 term
Four-port
Network analyzer
Parasitic
Scattering parameter
16 term
A 16-term error model based on linear equations of voltage and current variables
期刊论文
ieee transactions on microwave theory and techniques, 2006, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 1464-1469
Silvonen K
;
Zhu NH
;
Liu Y
收藏
  |  
浏览/下载:57/0
  |  
提交时间:2010/04/11
calibration
deembedding
error model
15 term
four-port
network analyzer
parasitic
scattering parameter
16 term
NETWORK-ANALYZER CALIBRATION
SCATTERING-PARAMETER
LOAD IMPEDANCES
LEAKAGE ERRORS
COMPLEX SOURCE
T-PARAMETERS
S-PARAMETERS
CONVERSIONS
DEVICES
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