QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序作者升序作者降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序 预先老化对注FnMOS器件辐射可靠性的影响 期刊论文 半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 1, 页码: 111-114 作者:  崔帅;  余学峰;  任迪远;  张华林;  艾尔肯 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2012/11/29 预先老化  辐照  注F  可靠性   预先老化对注FnMOS器件辐射可靠性的影响 期刊论文 半导体学报, 2005, 期号: 1, 页码: 111-114 作者:  崔帅;  余学峰;  任迪远;  张华林;  艾尔肯 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2012/11/29 预先老化  辐照  注F  可靠性