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物理研究所 [7]
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2006 [1]
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Chinese-German forum on Fundamentals and Technological Perspectives of Nanoscience - 26-30 September 2004, Beijing, China - Preface
期刊论文
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2006, 卷号: 38, 期号: 6, 页码: 989
Barczewski, M
;
von Blanckenhagen, P
;
Shen, DH
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2013/09/17
Fourier analysis of temporal and spatial oscillations of tunneling current in scanning tunneling microscopy
期刊论文
CHINESE PHYSICS, 2001, 卷号: 10, 页码: S19
Xie, FQ
;
Molitor, S
;
Koch, T
;
von Blanckenhagen, P
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
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提交时间:2013/09/17
ORIENTED PYROLITIC GRAPHITE
ELECTRON TRAPPING DEFECTS
SI(111) SURFACES
SILICON
SPECTROSCOPY
Contamination of Si surfaces in ultrahigh vacuum and formation of SiC islands
期刊论文
APPLIED SURFACE SCIENCE, 2001, 卷号: 181, 期号: 1-2, 页码: 139
Xie, F
;
von Blanckenhagen, P
;
Wu, J
;
Liu, JW
;
Zhang, QZ
;
Chen, YC
;
Wang, EG
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2013/09/17
SCANNING-TUNNELING-MICROSCOPY
EPITAXIAL-GROWTH
SI(111) SURFACES
VOID FORMATION
THIN-FILMS
SI(100)
SILICON
CARBONIZATION
OSCILLATIONS
NUCLEATION
Atomic Force Microscopy studies and modeling of surface structures patterned during Ostwald ripening at Fe/Mo multilayer systems
期刊论文
CHINESE PHYSICS, 2001, 卷号: 10, 页码: S163
Shen, DH
;
Luo, GM
;
Kang, N
;
Lai, WY
;
Berlinger, A
;
von Blanckenhagen, P
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2013/09/17
Time-dependent oscillations of tunneling current on partially oxidized Si(111) surfaces
期刊论文
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 2001, 卷号: 72, 页码: S217
Xie, F
;
von Blanckenhagen, P
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2013/09/23
Comparative study of harmonic oscillations of tunneling current on partially oxidized Si(100) and Si(111) surfaces by scanning tunneling microscopy and spectroscopy
期刊论文
SURFACE SCIENCE, 2000, 卷号: 454, 页码: 1031
Xie, F
;
Sun, M
;
von Blanckenhagen, P
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2013/09/17
ORIENTED PYROLITIC GRAPHITE
ROOM-TEMPERATURE
SILICON
RESISTANCE
Observation of harmonic current oscillations on partially oxidized Si(111) surfaces by scanning tunneling microscopy
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 1999, 卷号: 75, 期号: 20, 页码: 3144
Xie, FQ
;
von Blanckenhagen, P
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2013/09/24
ELECTRON TRAPPING DEFECTS
SILICON
RESISTANCE
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