×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
金属研究所 [2]
西安交通大学 [1]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2014 [1]
2010 [2]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
发表日期升序
发表日期降序
作者升序
作者降序
提交时间升序
提交时间降序
题名升序
题名降序
Engineering 180 degrees ferroelectric domains in epitaxial PbTiO3 thin films by varying the thickness of the underlying (La,Sr)MnO3 layer
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2014, 卷号: 105, 期号: [db:dc_citation_issue]
作者:
Jin, L.
;
Jia, C. L.
;
Vrejoiu, I.
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2019/12/03
Microstructural evolution of PbZr(x)Ti(1-x)O(3)/PbZr(y)Ti(1-y)O(3) (n) epitaxial multilayers (x/y=0.2/0.4, 0.4/0.6) - dependence on layer thickness
期刊论文
Philosophical Magazine, 2010, 卷号: 90, 期号: 10, 页码: 1359-1372
Y. L. Zhu
;
S. J. Zheng
;
X. L. Ma
;
L. Feigl
;
M. Alexe
;
D. Hesse
;
I. Vrejoiu
收藏
  |  
浏览/下载:15/0
  |  
提交时间:2012/04/13
ferroelectrics
transmission electron microscopy
microstructure
ferroelectric thin-films
misfit relaxation mechanisms
domain
configurations
heterostructures
polarization
Microstructural evolution of [PbZrxTi1-xO3/PbZryTi1-yO3](n) epitaxial multilayers (x/y=0.2/0.4, 0.4/0.6) - dependence on layer thickness
期刊论文
PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 2010, 卷号: 90, 期号: 10, 页码: 1359-1372
作者:
Zhu, Y. L.
;
Zheng, S. J.
;
Ma, X. L.
;
Feigl, L.
;
Alexe, M.
收藏
  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2021/02/02
ferroelectrics
transmission electron microscopy
microstructure
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace