QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序作者升序作者降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序 Wafer-level testing of optical and optoelectronic chips 专利 专利号: US7184626, 申请日期: 2007-02-27, 公开日期: 2007-02-27 作者:  GUNN, III, LAWRENCE C.;  MALENDEVICH, ROMAN;  PINGUET, THIERRY J.;  RATTIER, MAXIME J.;  SUSSMAN, MYLES 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/24