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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序作者升序作者降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序 AN OPTIMAL N-DETECTION TESTS GENERATION METHOD 会议论文 2011第三届机械与电气技术国际会议, 大连, 2011 作者:  GAIYOU HUANG;  JISHUN KUANG 收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2020/01/05 IC  Testing  N-detection  test  ATPG  fault  simulation  ILP