| AN OPTIMAL N-DETECTION TESTS GENERATION METHOD | |
| GAIYOU HUANG; JISHUN KUANG | |
| 会议名称 | 2011第三届机械与电气技术国际会议 |
| 会议日期 | 2011 |
| 会议地点 | 大连 |
| 关键词 | IC Testing N-detection test ATPG fault simulation ILP |
| 会议录 | 2011第三届机械与电气技术国际会议论文集
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| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6512319 |
| 专题 | 湖南大学 |
| 作者单位 | College of Information Science and Engineering,Hunan University Changsha,China |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | GAIYOU HUANG,JISHUN KUANG. AN OPTIMAL N-DETECTION TESTS GENERATION METHOD[C]. 见:2011第三届机械与电气技术国际会议. 大连. 2011. |
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