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科研机构
兰州大学 [1]
内容类型
会议论文 [1]
发表日期
2012 [1]
学科主题
atomic and... [1]
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XPS spectra of cu thin films prepared by ionized cluster beam deposition
会议论文
2nd International Symposium on Chemical Engineering and Material Properties, ISCEMP 2012, Taiyuan, Shanxi, China, June 22, 2012 - June 24, 2012
作者:
Cao, Bo
;
Yang, Tongrui
;
Li, Gongping
;
Cho, Seongjin
;
Kim, Hee
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提交时间:2017/01/20
X ray photoelectron spectroscopy
Atoms
Binding energy
Chemical engineering
Chemical modification
Deposits
Ions
Photoelectrons
Silicon
Surface properties
Thin films
Vapor deposition
Atomic binding
Bulk materials
Copper films
Cu thin film
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Ionized cluster beams
Local energy
Neutral clusters
P-type Si
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