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西安交通大学 [3]
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2018 [1]
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Methodical Approach for Immunity Assessment of Electronic Devices Excited by High Power EMP
期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2018, 卷号: 34, 页码: 547-557
作者:
Chepelev, Vladimir
;
Parfenov, Yury
;
Radasky, William
;
Titov, Boris
;
Zdoukhov, Leonid
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/11/19
HP EMP
Disruptions in electronic devices
Key parameters of electromagnetic disturbances
HPEM
Electromagnetic coupling
One of Ways to Choose UWB Pulse Repetition Rate for Assessment of the Electronic Devices Immunity
会议论文
作者:
Chepelev, Vladimir M.
;
Parfenov, Yury V.
;
Xie, Yan-zhao
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  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2019/11/26
IEMI
disruptions in electronic devices
key parameters of electromagnetic disturbances
electromagnetic coupling
Radiation Quality of the Multimodular EMP Source Depending on Non-synchronism of Individual Modules Triggering
会议论文
作者:
Chepelev, Vladimir M.
;
Parfenov, Yury V.
;
Xie, Yan-zhao
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2019/11/26
multimodular source of EMP
standard deviation of individual modules triggering moments
key parameters
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