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Defects Induced Charge Trapping/Detrapping and Hysteresis Phenomenon in MoS2 Field-Effect Transistors: Mechanism Revealed by Anharmonic Marcus Charge Transfer Theory 期刊论文
ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, 2021, 卷号: 14, 期号: 1, 页码: 2185–2193
作者:  Ma, Xiaolei;   Liu, Yue-Yang;   Zeng, Lang;   Chen, Jiezhi;   Wang, Runsheng;   Wang, Lin-Wang;   Wu, Yanqing;   Jiang, Xiangwei
收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2022/03/23
Schottky-barrier modulation at germanium/monolayer MoS2 heterojunction interface: the roles of passivation and interfacial layer 期刊论文
APPLIED PHYSICS EXPRESS, 2020, 卷号: 13, 期号: 2, 页码: 021004
作者:  Xiaolei Ma;   Xiangwei Jiang;  Yuan Li;   Jiezhi Chen
收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2021/11/30
Defects coupling impacts on mono-layer wse2 tunneling field-effect transistors 期刊论文
Applied physics express, 2019, 卷号: 12, 期号: 3
作者:  Wu,Jixuan;  Ma,Xiaolei;  Chen,Jiezhi;  Jiang,Xiangwei
收藏  |  浏览/下载：237/0  |  提交时间：2019/05/12
口腔颌面外科日间手术中国专家共识 期刊论文
China Journal of Oral and Maxillofacial Surgery, 2019, 期号: 05
作者:  蒋灿华;  翦新春;  张志愿;  郑家伟;  石冰
收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2019/12/05
清淋合剂治疗慢性前列腺炎(湿热下注型)的临床疗效研究 期刊论文
2019, 卷号: 28, 期号: 3, 页码: 120-123
作者:  杨兴智[1];  王铀[1];  张玲[2];  熊伟[1];  郭宇[1]
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/12/06
Defects coupling impacts on mono-layer WSe2 tunneling field-effect transistors 期刊论文
APPLIED PHYSICS EXPRESS, 2019, 卷号: 12, 期号: 3
作者:  Wu, Jixuan;  Ma, Xiaolei;  Chen, Jiezhi;  Jiang, Xiangwei
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/11
Defects coupling impacts on mono-layer WSe2 tunneling field-effect transistors 期刊论文
Applied Physics Express, 2019, 卷号: 12, 期号: 3
作者:  Wu, Jixuan;  Ma, Xiaolei;  Chen, Jiezhi;  Jiang, Xiangwei
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/11
Multiscale simulation of lateral charge loss in Si3N4 3D NAND flash based on density functional theory 期刊论文
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 2019, 卷号: 52, 期号: 39
作者:  Wu, Jixuan;  Chen, Jiezhi;  Jiang, Xiangwei
收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2019/12/11
Program/Erase Cycling Enhanced Lateral Charge Diffusion in Triple-level Cell Charge-trapping 3D NAND Flash Memory 期刊论文
2019 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM (IRPS), 2019, 卷号: 2019-March
作者:  Cao, Rui;  Wu, Jixuan;  Yang, Wenjing;  Chen, Jiezhi;  Jiang, Xiangwei
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/11
Multiscale simulation of lateral charge loss in Si3N4 3D NAND flash based on density functional theory 期刊论文
Journal of Physics D: Applied Physics, 2019, 卷号: 52, 期号: 39
作者:  Wu, Jixuan;  Chen, Jiezhi;  Jiang, Xiangwei
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/11

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