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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 基于STM32的电能质量检测技术研究 期刊论文 《国外电子测量技术》, 2011, 卷号: 30, 页码: 72-74 作者:  郑一维[1];  李长俊[1];  吴讯驰[2];  陈尚松[1] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/04/08 电能质量检测 内嵌式智能仪器  STM32微处理器