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	基于STM32的电能质量检测技术研究
	郑一维[1]; 李长俊[1]; 吴讯驰[2]; 陈尚松[1]
刊名	《国外电子测量技术》
	2011
卷号	30页码:72-74
关键词	电能质量检测 内嵌式智能仪器 STM32微处理器
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2031148
专题	华南理工大学
作者单位	1.[1]桂林电子科技大学TCR研究室,桂林541004 2.[2]华南理工大学自动化科学与工程学院,广州510641
推荐引用方式 GB/T 7714	郑一维[1],李长俊[1],吴讯驰[2],等. 基于STM32的电能质量检测技术研究[J]. 《国外电子测量技术》,2011,30:72-74.
APA	郑一维[1],李长俊[1],吴讯驰[2],&陈尚松[1].(2011).基于STM32的电能质量检测技术研究.《国外电子测量技术》,30,72-74.
MLA	郑一维[1],et al."基于STM32的电能质量检测技术研究".《国外电子测量技术》 30(2011):72-74.

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